登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Instrumentation metrology and standards for nanomanufacturing IV : 2-3 August 2010 San Diego Cal
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2010.
ISBN：9780819482631
出版年：2010
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III : 3-5 August 2009, San Diego, Ca
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819476951
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2009.
  • 出版年：2009
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III : 3-5 August 2009, San Diego, Ca
  • 作者：Allgair,John A.
  • ISBN：0819476951
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2009.
  • 出版年：2009
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing II : 10 August 2008, San Diego, Cali
  • 作者：Allgair,John A.
  • ISBN：9780819472625
  • 出版社：Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c2008.
  • 出版年：2008
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing : 29-30 August 2007, San Diego, Cali
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819467966
  • 出版社：Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c2007.
  • 出版年：2007
...

Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005, San Diego, California, USA
  • 作者：Assoufid,Lahsen.
  • ISBN：0819459267
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2005.
  • 出版年：2005
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V : 24-2
  • 作者：Coleman,Victoria Anne,
  • ISBN：0819487155
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
  • 出版年：2011