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Instrumentation metrology and standards for nanomanufacturing : 29-30 August 2007 San Diego Cali
出版社：Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c2007.
ISBN：9780819467966
出版年：2007
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献,馆内阅览
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