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Instrumentation metrology and standards for nanomanufacturing optics and semiconductors V : 24-2
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
ISBN：0819487155
出版年：2011
作者：Coleman,Victoria Anne,
资源类型：图书
细分类型：馆内阅览
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Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V : 24-2
  • 作者：Postek,Michael T.
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
  • 出版年：2011
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Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VIII : 2
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Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IV : 2-3 August 2010, San Diego, Cal
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Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III : 3-5 August 2009, San Diego, Ca
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2009.
  • 出版年：2009