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Instrumentation metrology and standards for nanomanufacturing II : 10 August 2008 San Diego Cali
出版社：Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c2008.
ISBN：9780819472625
出版年：2008
作者：Allgair,John A.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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