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Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005 San Diego California USA
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, c2005.
ISBN:
0819459267
出版年:
2005
作者:
Assoufid,Lahsen.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献,馆内阅览
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