微纳米MOS器件可靠性与失效机理

微纳米MOS器件可靠性与失效机理

出版社：科学出版社

ISBN：9787030205865

出版年：2008

作者：郝跃

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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