相关推荐

总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究

  • 作者:赵京昊
  • 出版社:中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年:2019

空间辐射环境下SiC MOSFET的长期可靠性退化机理研究

  • 作者:梁晓雯
  • 出版社:中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年:2023

微纳米MOS器件可靠性与失效机理

  • 作者:郝跃
  • ISBN:9787030205865
  • 出版社:科学出版社
  • 出版年:2008

空间辐射环境可靠性技术

  • 作者:王群勇
  • ISBN:9787118122169
  • 出版社:国防工业出版社
  • 出版年:2022