相关推荐

宽禁带GaN基绿光激光器可靠性及失效机理研究

  • 作者:王军飞
  • 出版社:中国科学院半导体研究所
  • 出版年:2021

GaN HEMT可靠性评价及机理研究

  • 作者:王鑫华
  • 出版年:2012

SiC MOS器件栅氧界面特性及可靠性失效机理研究

  • 作者:万彩萍
  • 出版社:中国科学院微电子研究所
  • 出版年:2023

高可靠性GaN基阵列式交直流LED研究

  • 作者:田婷
  • 出版年:2015

AIGaN/GaN HEMT器件可靠性研究

  • 作者:宋亮
  • 出版年:2018

GaN基晶体管缺陷调控及可靠性研究

  • 作者:姚毅旭
  • 出版社:中国科学院微电子研究所
  • 出版年:2022