总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究

总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究

出版社：中国科学院新疆理化技术研究所

出版年：2019

作者：赵京昊

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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空间辐射环境下SiC MOSFET的长期可靠性退化机理研究

作者：梁晓雯
出版社：中国科学院新疆理化技术研究所
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空间辐射环境可靠性技术

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半导体器件及电路的可靠性与退化

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ISBN：7030011643
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