纳米级MOS器件中NBTI和HCI可靠性提升研究

纳米级MOS器件中NBTI和HCI可靠性提升研究

出版社：中国科学院大学微电子学院

出版年：2019

作者：万雨石

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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微纳米MOS器件可靠性与失效机理

作者：郝跃
ISBN：9787030205865
出版社：科学出版社
出版年：2008

空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究

作者：马腾
出版年：2018

辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究

作者：周航
出版年：2017

SiC MOSFET栅氧化层可靠性和NBTI效应研究

作者：刘建君
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星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究

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SiC MOS器件栅氧界面特性及可靠性失效机理研究

作者：万彩萍
出版社：中国科学院微电子研究所
出版年：2023