登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
High-Resolution X-Ray Scattering
EISBN：
9781475740509
PISBN：
9780387400921
出版社：
Springer New York
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2004
版次：
2nd ed. 2004
作者：
Ullrich Pietsch,Vaclav Holy,Tilo Baumbach
主题词：
Materials Science,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Optical and Electronic Materials,Nanotechnology,Optics,Lasers,Photonics,Optical Devices
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Advanced Texts in Physics
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
High-Resolution X-Ray Scattering
作者：
Ullrich Pietsch,Václav Holý,Tilo Baumbach
EISBN：
9781475740509
出版社：
Springer New York
出版时间：
2004
High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers
作者：
Václav Holý,Ullrich Pietsch,Tilo Baumbach
EISBN：
9783540496250
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
1999
High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers
作者：
Vaclav Holy,Ullrich Pietsch,Tilo Baumbach
EISBN：
9783540496250
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
1999
High-Resolution X-ray Spectroscopy
作者：
Cosimo Bambi,Jiachen Jiang
EISBN：
9789819944095
出版社：
Springer Nature
出版时间：
2023
High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
作者：
Bowen,D.K.;Tanner,Brian K.;Bowen,D.K.;Tanner,Brian K.
EISBN：
9780429224836
出版社：
Taylor & Francis Group
出版时间：
1998-02-05
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
作者：
Yoshio Waseda
EISBN：
9783540460084
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
2002
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位