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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
EISBN：9783540460084
PISBN：9783540434436
出版社：Springer Berlin Heidelberg
出版类型：Monograph
出版时间：2002
版次：2002
作者：Yoshio Waseda
主题词：Materials Science,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Characterization and Evaluation of Materials
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：Springer Tracts in Modern Physics
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