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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers
EISBN：
9783540496250
PISBN：
9783540620297
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Monograph
出版时间：
1999
作者：
Václav Holý,Ullrich Pietsch,Tilo Baumbach
主题词：
Crystallography
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Tracts in Modern Physics
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