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High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
EISBN：9780429224836
PISBN：9780850667585
出版社：Taylor & Francis Group
出版时间：1998-02-05
版次：1
作者：Bowen,D.K.;Tanner,Brian K.;Bowen,D.K.;Tanner,Brian K.
主题词：Science,Science: Chemistry
语种：英语
所属数据库：ProQuest Ebook Central
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