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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
EISBN：9783662045169
PISBN：9783540678410
出版社：Springer Berlin Heidelberg
出版类型：Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：2001
版次：2001
作者：Brent Fultz,James M. Howe
主题词：Physics,Spectroscopy and Microscopy,Surface and Interface Science,Thin Films,Solid State Physics,Surfaces and Interfaces,Thin Films
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书(1815-2004)
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