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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
EISBN：
9783642297618
PISBN：
9783642297601
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2013
版次：
4th ed. 2013
作者：
Brent Fultz,James Howe
主题词：
Spectroscopy and Microscopy,Characterization and Evaluation of Materials,Spectroscopy/Spectrometry,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Surface and Interface Science,Thin Films
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Graduate Texts in Physics
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出版时间：
2008
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