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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
EISBN：
9783662049013
PISBN：
9783540437642
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2002
版次：
2nd ed. 2002
作者：
Brent Fultz,James Howe
主题词：
Materials Science,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy,Crystallography and Scattering Methods,Characterization and Evaluation of Materials
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
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出版时间：
2008
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