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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
EISBN：
9783540738862
PISBN：
9783540738855
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2008
版次：
Third Edition
作者：
Brent Fultz,James M. Howe
主题词：
Crystallography,Solid State Physics
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
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