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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
EISBN：
9789811324932
PISBN：
9789811324925
出版社：
Springer Singapore
出版类型：
Monograph
出版时间：
2019
版次：
1st ed. 2019
作者：
S. Jayanthy,M.C. Bhuvaneswari
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Control Structures and Microprogramming,Performance and Reliability,Logic Design
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
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