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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
EISBN：
9781461555971
PISBN：
9780792382959
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1998
版次：
1998
作者：
Angela Krstic,Kwang-Ting (Tim) Cheng
主题词：
Engineering,Electrical Engineering,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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