登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
EISBN：
9781461555971
PISBN：
9781461375616
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1998
作者：
Angela Krstić,Kwang-Ting Cheng
主题词：
Electrical Engineering,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
作者：
Angela Krstic,Kwang-Ting (Tim) Cheng
EISBN：
9781461555971
出版社：
Springer US
出版时间：
1998
IDDQ Testing of VLSI Circuits
作者：
Ravi K. Gulati,Charles F. Hawkins
EISBN：
9781461531463
出版社：
Springer US
出版时间：
1993
IDDQ Testing of VLSI Circuits
作者：
Ravi K. Gulati,Charles F. Hawkins
EISBN：
9781461531463
出版社：
Springer US
出版时间：
1993
A Unified Approach for Timing Verification and Delay Fault Testing
作者：
Mukund Sivaraman,Andrzej J. Strojwas
EISBN：
9781441985781
出版社：
Springer US
出版时间：
1998
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
作者：
S. Jayanthy,M.C. Bhuvaneswari
EISBN：
9789811324932
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
A Unified Approach for Timing Verification and Delay Fault Testing
作者：
Mukund Sivaraman,Andrzej J. Strojwas
EISBN：
9781441985781
出版社：
Springer US
出版时间：
1998
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位