登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
VLSI Design and Test
EISBN：
9789813297678
PISBN：
9789813297661
出版社：
Springer Singapore
出版类型：
Proceedings
出版时间：
2019
版次：
1st ed. 2019
作者：
Anirban Sengupta,Sudeb Dasgupta,Virendra Singh,Rohit Sharma,Santosh Kumar Vishvakarma
主题词：
Computer Science,Computer Hardware,Computer Systems Organization and Communication Networks,Image Processing and Computer Vision,Mathematical Logic and Formal Languages
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Communications in Computer and Information Science
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
VLSI Design and Test
作者：
S. Rajaram,N.B. Balamurugan,D. Gracia Nirmala Rani,Virendra Singh
EISBN：
9789811359507
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
VLSI Design and Test
作者：
Brajesh Kumar Kaushik,Sudeb Dasgupta,Virendra Singh
EISBN：
9789811074707
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2017
VLSI Design and Test
作者：
Manoj Singh Gaur,Mark Zwolinski,Vijay Laxmi,Dharmendra Boolchandani,Virendra Sing,Adit D. Sing
EISBN：
9783642420245
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
2013
VLSI Design and Test for Systems Dependability
作者：
Shojiro Asai
EISBN：
9784431565949
出版社：
Springer Japan
出版时间：
2019
Progress in VLSI Design and Test
作者：
Hafizur Rahaman,Sanatan Chattopadhyay,Santanu Chattopadhyay
EISBN：
9783642314940
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
2012
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
作者：
Laung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu,Xiaoqing Wen
PISBN：
9780123705976
出版时间：
Pre 2007
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位