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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
EISBN：
9780387465470
PISBN：
9780387465463
出版社：
Springer US
出版类型：
Monograph
出版时间：
2007
作者：
Manoj Sachdev,José Pineda de Gyvez
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering,Engineering Design,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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