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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
EISBN：
9781461315254
PISBN：
9781461288183
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1990
作者：
Niraj K. Jha,Sandip Kundu
主题词：
Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Springer US
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