登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
IDDQ Testing of VLSI Circuits
EISBN：
9781461531463
PISBN：
9781461363774
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1993
作者：
Ravi K. Gulati,Charles F. Hawkins
主题词：
Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
IDDQ Testing of VLSI Circuits
作者：
Ravi K. Gulati,Charles F. Hawkins
EISBN：
9781461531463
出版社：
Springer US
出版时间：
1993
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
作者：
Angela Krstic,Kwang-Ting (Tim) Cheng
EISBN：
9781461555971
出版社：
Springer US
出版时间：
1998
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
作者：
Angela Krstić,Kwang-Ting Cheng
EISBN：
9781461555971
出版社：
Springer US
出版时间：
1998
Power-constrained Testing of VLSI Circuits
作者：
Nicola Nicolici,Bashir M. Al-Hashimi
EISBN：
9780306487316
出版社：
Springer US
出版时间：
2003
Introduction to IDDQ Testing
作者：
Sreejit Chakravarty,Paul J. Thadikaran
EISBN：
9781461561378
出版社：
Springer US
出版时间：
1997
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
作者：
Nicola Nicolici,Bashir M. Al-Hashimi
EISBN：
9780306487316
出版社：
Springer US
出版时间：
2003
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位