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Power-constrained Testing of VLSI Circuits
EISBN：
9780306487316
PISBN：
9781402072352
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2003
作者：
Nicola Nicolici,Bashir M. Al-Hashimi
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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