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Advances in metrology for X-ray and EUV optics III : 1-2 August 2010 San Diego California USA
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2010.
ISBN：9780819482976
出版年：2010
作者：Assoufid,Lahsen.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2008.
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