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Advances in metrology for X-ray and EUV optics II : 30 August 2007 San Diego California USA
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2007.
ISBN：9780819468529
出版年：2007
作者：Assoufid,Lahsen.
资源类型：图书
细分类型：西文文献,馆内阅览
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