登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

SiC MOSFET栅氧化层可靠性和NBTI效应研究
出版年：2021
作者：刘建君
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

基于SiC MOS的栅氧可靠性研究
  • 作者：李海荣
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2023
...

SiC MOS器件栅氧界面特性及可靠性失效机理研究
  • 作者：万彩萍
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2023
...

γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究
  • 作者：苏丹丹
  • 出版年：2017
...

空间辐射环境下SiC MOSFET的长期可靠性退化机理研究
  • 作者：梁晓雯
  • 出版社：中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年：2023
...

高可靠性SiC MOSFET设计与制备技术研究
  • 作者：刘少煜
  • 出版社：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年：2022
...

3300V SiC MOSFET设计及可靠性研究
  • 作者：陈宏
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2019