【内容概述】近日，剑桥大学Zimu Wei，Samuel D. Stranks等，在Nature Reviews Methods Primers上发文，报道了光电材料的光致发光显微镜的基本原理和方法，重点介绍了不同显微镜配置，强调不同显微镜配置对揭示光电子材料光物理行为的独特见解及选择合适设置的重要性。内容涵盖宽场和共焦扫描等采集模式，以及时间分辨和光谱分辨 PL 技术，还提供实验设置、数据采集和分析方法的实用指导，讨论常见挑战和限制。此外，探讨了新兴应用、典型问题解决方案及 PL 成像的潜在进展，旨在支持下一代光电子材料和器件的优化，适用于从事光电子材料研究和器件开发的科研人员与工程师。关键主题包括宽场和共焦扫描等采集模式，以及时间分辨和光谱分辨光致发光PL技术。还提供了关于实验设置、数据采集和分析方法的实用指南，并阐述了常见的挑战和局限性。
最后，讨论了光致发光PL成像的新兴应用、典型问题的解决方案以及潜在的进展，旨在支持下一代光电材料和器件的优化。
