半导体器件及电路的可靠性与退化

PISBN:7030011643
出版类型:专著
出版时间:1989-10-01
版次:1
作者:(英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)主编;李锦林等译
学科:动力与电气工程
语种:中文
所属数据库:科学文库
相关推荐

半导体器件可靠性物理

  • 作者:高光渤,李学信编著
  • PISBN:15031879
  • 出版时间:1987-11-01

电子元器件可靠性设计

  • 作者:王蕴辉,于宗光,孙再吉主编
  • PISBN:9787030196385
  • 出版时间:2007-09-01

可靠性评定

  • 作者:周源泉
  • PISBN:7030015843
  • 出版时间:1990-03-01

阻变存储器 : 器件、材料、机理、可靠性及电路

  • 作者:林殷茵,宋雅丽,薛晓勇著
  • PISBN:9787030414991
  • 出版时间:2014-08-01

可靠性数学

  • 作者:(美)阿姆斯塔特(B.L.Amstadter)著;彭兴文译
  • PISBN:13031809
  • 出版时间:1978-09-01

微纳米MOS器件可靠性与失效机理

  • 作者:郝跃,刘红侠著
  • PISBN:9787030205865
  • 出版时间:2008-03-01