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电子元器件可靠性设计
PISBN：9787030196385
出版类型：专著
出版时间：2007-09-01
版次：1
作者：王蕴辉，于宗光，孙再吉主编
学科：电子与通信技术
语种：中文
所属数据库：科学文库
丛书题名：电子可靠性工程技术实践丛书
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