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微纳米MOS器件可靠性与失效机理
PISBN：9787030205865
出版类型：专著
出版时间：2008-03-01
版次：1
作者：郝跃，刘红侠著
学科：材料科学
语种：中文
所属数据库：科学文库
丛书题名：半导体科学与技术丛书
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