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Quantitative X-Ray Diffractometry
EISBN：9781461395355
PISBN：9780387945415
出版社：Springer New York
出版类型：Monograph
出版时间：1995
版次：1995
作者：Lev S. Zevin,Giora Kimmel,Inez Mureinik
主题词：Physics,Crystallography and Scattering Methods
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书(1815-2004)
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