登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
EISBN：
9780306475443
PISBN：
9780792386698
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2000
版次：
2000
作者：
Benoit Nadeau-Dostie
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
作者：
Benoit Nadeau-Dostie
EISBN：
9780306475443
出版社：
Springer US
出版时间：
2000
Test Design
作者：
Embretson,Susan E.
PISBN：
9780122381805
出版时间：
Legacy
System Test and Diagnosis
作者：
William R. Simpson,John W. Sheppard
EISBN：
9781461527022
出版社：
Springer US
出版时间：
1994
System Test and Diagnosis
作者：
William R. Simpson,John W. Sheppard
EISBN：
9781461527022
出版社：
Springer US
出版时间：
1994
VLSI Design and Test
作者：
Anirban Sengupta,Sudeb Dasgupta,Virendra Singh,Rohit Sharma,Santosh Kumar Vishvakarma
EISBN：
9789813297678
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
作者：
Dongwoo Hong,Kwang-Ting Cheng
EISBN：
9789048134434
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
2010
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位