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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
EISBN：
9780306475443
PISBN：
9780792386698
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2000
作者：
Benoit Nadeau-Dostie
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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作者：
Benoit Nadeau-Dostie
EISBN：
9780306475443
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Springer US
出版时间：
2000
Test Design
作者：
Embretson,Susan E.
PISBN：
9780122381805
出版时间：
Legacy
System Test and Diagnosis
作者：
William R. Simpson,John W. Sheppard
EISBN：
9781461527022
出版社：
Springer US
出版时间：
1994
System Test and Diagnosis
作者：
William R. Simpson,John W. Sheppard
EISBN：
9781461527022
出版社：
Springer US
出版时间：
1994
VLSI Design and Test
作者：
Anirban Sengupta,Sudeb Dasgupta,Virendra Singh,Rohit Sharma,Santosh Kumar Vishvakarma
EISBN：
9789813297678
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
VLSI Design and Test
作者：
S. Rajaram,N.B. Balamurugan,D. Gracia Nirmala Rani,Virendra Singh
EISBN：
9789811359507
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
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