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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
EISBN：
9781441982971
PISBN：
9781441982964
出版社：
Springer New York
出版类型：
Monograph
出版时间：
2012
作者：
Mohammad Tehranipoor,Ke Peng,Krishnendu Chakrabarty
主题词：
Circuits and Systems,Performance and Reliability,Nanotechnology and Microengineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
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