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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
EISBN：
9783662532270
PISBN：
9783662532256
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Monograph
出版时间：
2017
版次：
1st ed. 2017
作者：
Youichi Murakami,Sumio Ishihara
主题词：
Condensed Matter Physics,Characterization and Evaluation of Materials,Spectroscopy and Microscopy,Nanotechnology and Microengineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Tracts in Modern Physics
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