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CTL for Test Information of Digital ICS
EISBN：9780306478260
PISBN：9781402072932
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：2002
作者：Rohit Kapur
主题词：Circuits and Systems,Electrical Engineering,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书
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