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Testability Concepts for Digital ICs
EISBN：9781461523659
PISBN：9781461360049
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：1995
作者：F. P. M. Beenker,R. G. Bennetts,A. P. Thijssen
主题词：Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书
丛书题名：Frontiers in Electronic Testing
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