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微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems
PISBN：9787030376060
出版类型：专著
出版时间：2013-06-01
版次：1
作者：(瑞典)刘建影(Johan Liu)[等]著；郭福，马立民译
学科：电子与通信技术
语种：中文
所属数据库：科学文库
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