登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Instrumentation metrology and standards for nanomanufacturing optics and semiconductors VII : 28
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2013.
ISBN：9780819496690
出版年：2013
作者：Postek,Michael T.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V : 24-2
  • 作者：Coleman,Victoria Anne,
  • ISBN：0819487155
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
  • 出版年：2011
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V : 24-2
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819487155
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2011.
  • 出版年：2011
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VIII : 2
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9781628412000
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2014.
  • 出版年：2014
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VI : 13-
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819491831
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2012.
  • 出版年：2012
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IV : 2-3 August 2010, San Diego, Cal
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819482631
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2010.
  • 出版年：2010
...

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III : 3-5 August 2009, San Diego, Ca
  • 作者：Postek,Michael T.
  • ISBN：9780819476951
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2009.
  • 出版年：2009