数字集成电路功耗与测试综合优化

数字集成电路功耗与测试综合优化

出版社：清华大学出版社

ISBN：9787302455608

出版年：2016

作者：孙强

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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