数字集成电路测试优化 :测试压缩、测试功耗优化、测试调度

数字集成电路测试优化 :测试压缩、测试功耗优化、测试调度

出版社：科学出版社

ISBN：9787030278944

出版年：2010

作者：李晓维

学科：电技术、电子技术

资源类型：图书

细分类型：中文文献

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