相关推荐

数字集成电路功耗与测试综合优化

  • 作者:孙强
  • ISBN:9787302455608
  • 出版社:清华大学出版社
  • 出版年:2016

数字集成电路测试优化 :测试压缩、测试功耗优化、测试调度

  • 作者:李晓维
  • ISBN:9787030278944
  • 出版社:科学出版社
  • 出版年:2010

数字集成电路测试压缩方法研究与实现

  • 作者:查志伟
  • 出版社:中国科学院计算技术研究所
  • 出版年:2023

数字集成电路时延可测试性设计方法研究

  • 作者:裴颂伟
  • 出版年:2011

数字集成电路 :原理、设计、测试与应用

  • 作者:杜树春
  • ISBN:9787122424174
  • 出版社:化学工业出版社
  • 出版年:2024