登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究
出版年：2017
作者：苏丹丹
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

SiC MOSFET栅氧化层可靠性和NBTI效应研究
  • 作者：刘建君
  • 出版年：2021
...

空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究
  • 作者：马腾
  • 出版年：2018
...

~60Co-γ射线和电子束对CCD辐射效应的比较研究
  • 作者：武大猷
  • 出版年：2016
...

SOI功率器件研制及可靠性研究
  • 作者：夏超
  • 出版年：2015
...

基于SiC MOS的栅氧可靠性研究
  • 作者：李海荣
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2023
...

空间辐射环境下SiC MOSFET的长期可靠性退化机理研究
  • 作者：梁晓雯
  • 出版社：中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年：2023