登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

基于SiC MOS的栅氧可靠性研究
出版社：中国科学院微电子研究所
出版年：2023
作者：李海荣
资源类型：图书
细分类型：中文文献
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

SiC MOS器件栅氧界面特性及可靠性失效机理研究
  • 作者：万彩萍
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2023
...

SiC MOSFET栅氧化层可靠性和NBTI效应研究
  • 作者：刘建君
  • 出版年：2021
...

沟槽SiC MOSFET器件栅氧可靠性设计研究
  • 作者：卞玉洋
  • 出版社：中国科学院大学集成电路学院
  • 出版年：2024
...

65nmNOR型浮栅存储器可靠性研究
  • 作者：孙忠
  • 出版年：2013
...

栅腔脉冲空间行波管可靠性研究
  • 作者：尚新文
  • 出版年：2016
...

塑料封装球栅阵列温度循环可靠性研究
  • 作者：张礼季
  • 出版年：2002