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Nano- and micro-metrology : 16-17 June 2005 Munich Germany
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c2005.
ISBN：0819458589
出版年：2005
作者：Ottevaere,Heidi.
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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  • 出版社：Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2005.
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Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009, Munich, Germany
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  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
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