登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009 Munich Germany
出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
ISBN：0819476730
出版年：2009
作者：Bodermann,Bernd.
资源类型：图书
细分类型：馆内阅览
2浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009, Munich, Germany
  • 作者：Bosse,Harald.
  • ISBN：9780819476739
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
  • 出版年：2009
...

Microsystems metrology and inspection : 15-16 June 1999, Munich, Germany
  • 作者：Gorecki,Christophe,
  • ISBN：081943311X
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1999.
  • 出版年：1999
...

Modeling aspects in optical metrology V : 23-25 June 2015, Munich, Germany
  • 作者：Bodermann,Bernd.
  • ISBN：9781628416862
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2015.
  • 出版年：2015
...

Modeling aspects in optical metrology : 18-19 June 2007, Munich, Germany
  • 作者：Bodermann,Bernd.
  • ISBN：9780819467591
  • 出版社：Bellingham, Wash., USA : SPIE, c2007.
  • 出版年：2007
...

Modeling aspects in optical metrology VI : 26-28 June 2017, Munich, Germany
  • 作者：Bodermann,Bernd.
  • ISBN：9781510611054
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2017.
  • 出版年：2017
...

Molecular imaging II : 15 June 2009, Munich, Germany
  • 作者：Licha,Kai.
  • ISBN：9780819476463
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
  • 出版年：2009