登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Modeling aspects in optical metrology VI : 26-28 June 2017 Munich Germany
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2017.
ISBN:
9781510611054
出版年:
2017
作者:
Bodermann,Bernd.
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
2浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Digital optical technologies 2017 : 26-28 June 2017, Munich, Germany
作者:
Kress,Bernard C.
ISBN:
9781510611153
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2017.
出版年:
2017
Modeling aspects in optical metrology VII : at SPIE optical metrology : 24-26 June 2019, Munich, Ger
作者:
Bodermann,Bernd.
ISBN:
9781510627932
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009, Munich, Germany
作者:
Bodermann,Bernd.
ISBN:
0819476730
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
出版年:
2009
Modeling aspects in optical metrology V : 23-25 June 2015, Munich, Germany
作者:
Bodermann,Bernd.
ISBN:
9781628416862
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2015.
出版年:
2015
Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009, Munich, Germany
作者:
Bosse,Harald.
ISBN:
9780819476739
出版社:
Bellingham, Wash. : SPIE, 2009.
出版年:
2009
Modeling aspects in optical metrology : 18-19 June 2007, Munich, Germany
作者:
Bodermann,Bernd.
ISBN:
9780819467591
出版社:
Bellingham, Wash., USA : SPIE, c2007.
出版年:
2007
×
访问借阅管理系统